Fortschrittliche Defekt- und Kontaminations-Inspektionslösungen für die Halbleiter- und Mikroelektronikindustrie
Präzise Erkennung und Analyse mit der bahnbrechenden Technologie von Onto Innovation
Onto Innovation bietet fortschrittliche Defekt- und Kontaminations-Inspektionswerkzeuge zur vollflächigen Defekterkennung, -kartierung und -klassifizierung auf transparenten, durchscheinenden und opaken Substraten. Als führender Anbieter von Prozesskontrolllösungen für die Halbleiter- und Mikroelektronikindustrie ist Onto Innovation bekannt für seine hochmodernen Inspektionssysteme, die Ertrag, Zuverlässigkeit und Produktionseffizienz steigern. Diese Werkzeuge ermöglichen eine präzise Erkennung und Analyse kritischer Probleme in der Halbleiterfertigung.
Als Vertriebspartner für Europa bietet S3 Alliance fachkundige Unterstützung, Beratung und nahtlosen Zugang zu den Inspektionstechnologien von Onto Innovation, um Ihnen zu helfen, Ihre Prozesse zu optimieren und höchste Qualitätsstandards zu gewährleisten.
Die Werkzeuge von Onto Innovation sind sowohl für die Erkennung von Oberflächen- als auch von internen Defekten konzipiert. Durch die Nutzung von vier gleichzeitig arbeitenden Erkennungskanälen liefert die Technologie eine unübertroffene Leistung und verbessert die Ertragskontrolle sowie das Management in Schlüsselindustrien, einschließlich Halbleiter, Unterhaltungselektronik und dem schnell wachsenden Glasmarkt für High-Tech-Produkte.
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