Dimensionelle Wafer-Messtechnik
ATLANTIS™ C-SAM Inspect...
High Speed C-SAM Inspection System ATLANTIS™ is an advanced high-speed...
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Halbleiter / MEMS
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About Halbleiter / MEMS
S3 Alliance liefert das Netzwerk und das Produktportfolio, die unseren Kunden Spitzenlösungen bringen. Unsere Zuliefer- und Servicelösungen sind auf die Bedürfnisse des Kunden zugeschnitten, was ihm die Wettbewerbsfähigkeit in einem globalen Markt sichert. Für die Halbleiter/MEMS- Branche beschaffen und bieten wir Qualitätsprodukte zu einem angemessenen Preis. Innerhalb der Branche bieten wir Lösungen in den folgenden Bereichen: Prozessausrüstung, Messtechnik und Behandlungstechnik, Ersatzteile und Verbrauchsartikel, Service und Reparatur.
Wafer-Handling
T Series Wafer Sorting / ...
Die NADAtech T Series 300 mm Sorter sind FOUP/FOSB-kompatibel für...
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Wafer-Handling
N Series Wafer Sorting / ...
Die N Series OC Sorter (auch bekannt als Open Cassette...
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Optische Inspektionssysteme
PrimaScan™ P Serie
Die PrimaScan™ Serie von Wafer- und Panel-Inspektionssystemen bietet eine umfassende...
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Optische Inspektionssysteme
Celero™ PL System
Das Celero™ PL System wurde entwickelt, um der wachsenden Nachfrage...
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Rasterelektronenmikroskopie
K-1 Ionen Sputter Coater
K-1 Ionen Sputter Coater ist ein vollautomatisches Coating-Tool zur Probenpräparation...
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Optische Mikroskopie
OptoNano 200
Advanced microscopy technology Resolve down to 137 nm scale with...
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Messtechnik für chemische Konzentrationen
Chemical Concentration Me...
The semiconductor industry, among others, uses chemical concentrations in its...
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Optische Inspektionssysteme
PrimaScan™ Serie
Die PrimaScan™ Serie von Wafer- und Panel-Inspektionssystemen bietet eine umfassende...
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Wafer-Handling
Automatischer Flat- / Not...
Automatischer Aligner Kompakt in Größe und verschleißfest (Körpermaterial: P.O.M. oder...
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Rasterelektronenmikroskopie
Genesis-Serie (Kompaktes ...
EMCrafts Genesis-Serie: Kompaktes Standard-REM / Rasterelektronenmikroskop nur 1m² Platzbedarf erhältlich...
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Dimensionelle Wafer-Messtechnik
Wafer-Dickenmessung & Opt...
Der NANOMEZ® RT-3500 ist ein speziell entwickeltes Hybrid-Messtechniksystem, das die...
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Durchflusssensoren & Luftblasendetektoren
Ultraschall Clamp-On Durc...
SEMIFLOW, BERÜHRUNGSLOSER DURCHFLUSSMESSER: BESTENS FÜR DIE ANWENDUNG IN DER HALBLEITERINDUSTRIE...
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Durchflusssensoren & Luftblasendetektoren
SONOFLOW IL.52 Inline-Sen...
Der Ultraschallsensor SONOFLOW IL.52 erfasst selbst kleinste Strömungsgeschwindigkeiten von Flüssigkeiten...
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Durchflusssensoren & Luftblasendetektoren
SONOCHECK® ABD06 Luftbl...
SONOCHECK® ABD06 LUFTBLASENSENSOR – CLAMP-ON DETEKTOR FÜR INDUSTRIELLE ANWENDUNGEN Die...
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Automation
WaferMate200 Handling Wor...
Der Wafer-Handler der WaferMate200-Serie ist eine hochgradig konfigurierbare Wafer- und...
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Automation
WaferMate300 Handling Wor...
Die WaferMate300-Serie ist eine hochgradig konfigurierbare, BOLTS-kompatible Roboter-Substrat-Handling-Plattform, die hohe...
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Rasterelektronenmikroskopie
CUBE II (Desktop REM)
EMCrafts CUBE II Desktop Rasterelektronenmikroskop mit Weltklasse-Leistung zu einem sehr...
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Rasterelektronenmikroskopie
Veritas Series (Großkamm...
EMCrafts Veritas-Serie: Großkammer-Rasterelektronenmikroskop automatische 5-Achsen Stage 200V ~ 30kV 10...
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