Metrology Handling
Wafer Thickness & 3D Opti...
NANOMEZ® RT-3500 is a specially designed hybrid metrology system that...
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Semiconductor / Mems
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About Semiconductor / Mems
S3 Alliance liefert das Netzwerk und das Produktportfolio, die unseren Kunden Spitzenlösungen bringen. Unsere Zuliefer- und Servicelösungen sind auf die Bedürfnisse des Kunden zugeschnitten, was ihm die Wettbewerbsfähigkeit in einem globalen Markt sichert. Für die Halbleiter/MEMS- Branche beschaffen und bieten wir Qualitätsprodukte zu einem angemessenen Preis. Innerhalb der Branche bieten wir Lösungen in den folgenden Bereichen: Prozessausrüstung, Messtechnik und Behandlungstechnik, Ersatzteile und Verbrauchsartikel, Service und Reparatur.
Handling/Automation, Metrology Handling
Fully Automatic Wafer Ins...
WL-200S was developed to respond the demand for more downsized...
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Cleaning Accessories, CMP, Equipment Cleaning, Mask Cleaning, Photolithography, Purity Chem Pump, Spin Coater
SEMIFLOW CLAMP-ON FLOW SE...
SEMIFLOW SENSOREN: BESTENS FÜR DIE ANWENDUNG IN DER HALBLEITERINDUSTRIE GEEIGNET...
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Cleaning Accessories, Handling, Handling/Automation, Metrology Handling
SONOFLOW IL.52 INLINE-SEN...
Der Ultraschallsensor erfasst präzise selbst kleinste Strömungsgeschwindigkeiten von Flüssigkeiten –...
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Cleaning Accessories, CMP, Equipment Cleaning, Mask Cleaning, Photolithography, Purity Chem Pump, Single Wafer Carrier, Spin Coater
SONOCHECK AIR BUBBLE DETE...
SONOCHECK® ABD06 LUFTBLASENSENSOR – DAS FLAGGSCHIFF FÜR INDUSTRIELLE ANWENDUNGEN Die Luftblasendetektion...
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Wafer Dimensional Metrology
Wafer Geometrie Messsyste...
Das UltraMap 200-BP Wafer Messsystem misst Waferdicke, Ebenheit und Form...
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Wafer Dimensional Metrology
Wafer Geometrie Messsyste...
Benchtop automatisiertes Dickenmesssystem mit X-Y-Stufe auf Luftlager für Wafer bis...
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Wafer Dimensional Metrology
Wafer Geometrie Messsyste...
Ein präzises, flexibles Benchtop Wafer & Substrat Geometrie Messsystem für...
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Wafer Dimensional Metrology
Wafer Geometrie Messsyste...
Handbuch, Benchtop Wafer Thickness Measurement System Patentierte Sensortechnologie mit APBP...
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Process Tool Automation
WaferMate200 Handling Wor...
Der Wafer-Handler der WaferMate200-Serie ist eine hochgradig konfigurierbare Wafer- und...
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Process Tool Automation
WaferMate300 Handling Wor...
Die WaferMate300-Serie ist eine hochgradig konfigurierbare, BOLTS-kompatible Roboter-Substrat-Handling-Plattform, die hohe...
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Optical Surface Inspection
SUN – Mask Reticle Insp...
▪ Partikelinspektion auf Reticle: – Pellicle, Pellicle Frame, Pattern, Backside...
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Optical Surface Inspection
WIND - Wafer Macro Inspec...
▪ Hoher Durchsatz mit Dual-Linsen-System ▪ Chip-Inspektion nach dem Sägen...
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Optical Surface Inspection
OAK - Automatic Wafer Sco...
▪ Verify Rework System (VRS) : – Kamera : Farbüberprüfung...
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Optical Surface Inspection
CYPRESS - Die Attach Insp...
▪ 2D-Inspektion mit guter Auflösung ▪ 3D-Höhenmessung der Komponenten ▪...
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Optical Surface Inspection
LED Sapphire Wafer Inspec...
– Überpüfen nach Prozessen wie: Polieren, PSS, Epi, LED FAB...
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Scanning Electron Microscope
Ionen Sputter Coater G20
Dieses Gerät erzeugt Plasma auf der Oberfläche von nichtleitenden und...
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UV Light Inspection
Apollo 2.0
Radiometer/Photometer zur Messung von UV und sichtbarem Licht über einen...
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Optical Surface Inspection
PCB – HDI PCB Inspectio...
– Das weltweit erste Inspection Tool, das jeweils eine Monochrom...
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Optical Surface Inspection
PCB – IC Package Sortin...
– IC-Paket Substratsortierung / 2D-Barcode-Inspektions- und Sortiersystem ▪ verfügbar für...
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Optical Surface Inspection
Leiterplatte - IC-Paketin...
Als Industriestandard AFVI erhältlich für verschiedene Substrate. 2um – 5,5...
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Optical Surface Inspection
LED Chip Inspection Syste...
▪ LED-Chip Monitoring & Inspektion ▪ Optional: Zeilenkamera, High Speed...
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Scanning Electron Microscope
CUBE II (Desktop REM)
EMCrafts CUBE II Rasterelektronenmikroskop mit Weltklasse-Leistung Automatische Stage & 4CH...
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Scanning Electron Microscope
Veritas-Series (Big Chamb...
High Performance and Productivity Large Scale Stage Movement (X /...
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Scanning Electron Microscope
Genesis-Series (Compact N...
Genesis-Series (Compact Normal SEM) More Value in Less Space Straightforward &...
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UV Light Inspection
MB Hercules Ex
Wahrscheinlich das langlebigste UV-Licht der Welt heute, geeignet für jede...
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Wafer Dimensional Metrology
Wafer Geometrie Messsyste...
Das UltraMap 200C Wafer Messsystem misst wafer dicke, flache und...
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Wafer Handling
Auto Wafer Transfer
Werkzeug für den automatisierten Wafertransfer Automatische Wafer-Transfer Automatischen und manuellen...
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H2 Purity Control
HEMS Hydrogen Purity Anal...
Der Power+Energy HEMS™ Hydrogen Purity Analyzer ist ein Vollspektrum-Instrument mit...
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Process Tool Automation
CP150 Serie: Hoch-Präzis...
Flexibles, hoch-präzises Automationssystem Die CP-150 Automations-Plattform bietet zukunftssichere Flexibilität für...
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Process Tool Automation
SIM Series Automation Pla...
Die SIM-Plattform (Standard Integration Module) von Jabil Precision Autmations verwendet...
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UV Light Inspection
UVG3 Taschenlampe
Labino bietet eine große Auswahl an Taschenlampen. Die beliebtesten UV-Lampen...
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UV Light Inspection
MidBeam 2.0 Mains Handhel...
MidBeam 2.0 ist eine kleine Handlampe, die für ihre Größe...
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UV Light Inspection
Galaxy Hands Free UV-Lich...
Galaxy ist die perfekte Option für die Inspektion in der...
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