Product Type:
Metrology & Handling
Application:
Rasterelektronenmikroskopie
Product Description:
EMCrafts CUBE II
Desktop Rasterelektronenmikroskop mit Weltklasse-Leistung
zu einem sehr attraktiven Preis
- Kompakt und leicht, Gewicht: 65kg
- einfache Installation durch den Anwender möglich
- Installation, Service, Training aus Deutschland
- Schnelle und einfache Bedienung (in 90s betriebsbereit)
- Höchste Auflösung (*200k@30kV)
- 100% motorisierte Plattform & 4CH BSE als Standardmodell
- EDS/EDX-Detektor optional erhältlich
- Kein e-Strahl Ausrichtung notwendig
Vorteile
- einfache und intuitive Benutzeroberfläche
- 5-Achsen Stage
- maximale Probengröße – Horizontal : 140mm, Vertikal : 80mm
- bis 200.000-fache Vergrößerung
- automatische Funktionen: Auto-Fokus, Auto-Helligkeit und -Kontrast, Auto-Gun-Align, Auto-Sättigung
- hochauflösende Bildgebung – 5,0nm (SE-Bild) / 6,0nm (BSE-Bild)
- schnelle Analyse durch Probenwechsel innerhalb von 90 Sekunden – Vakuum bereit nach 90 Sekunden – Kammer belüftet nach 10 Sekunden
- 4CH BSED als Basisoption (Combo, Topo)
- verschiedene Arten von Proben können mit optionalen Detektoren analysiert werden – EDS(All-in-one Modell von SEM-EDS) *Oxford, Bruker, EDAX, Thermo kompatibel, Auto Rotation, Auto Tilt, Chamber-Kamera
- Sehr attraktiver Preis
Vereinbaren Sie noch heute eine Vorführung in unserer Niederlassung in Kirchentellinsfurt!
| Stage | 5-axis Stage -X : 42mm (Motorized) -Y : 42mm (Motorized) -Z : 5 ~ 53mm (Motorized) -T : -90° ~ 90° (Manual) -R : 360° (Beam Rotation) |
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| Vacuum Mode | High Vacuum Mode (<9×10-3 Pa) Charge Reduction Mode |
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| Vacuum System | -Fully Automated Evacuation System -Turbo molecular pump (Vacuum ready within 90 sec) -Rotary vane pump -Electrical valve system |
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| Electron Gun | Pre-centered Tungsten Filament | ||
| Detector | SE Detector 4CH BSE Detector | ||
| Resolution | 5.0nm (SE Image at 30kV) | ||
| Magnification | x10 ~ x200,000 | ||
| Acceleration Voltage | 1kV ~ 30kV | ||
| Image Shift | 100μm | ||
| Maximum Sample Size | Horizontal : 140mm; Vertical : 80mm | ||
| Working Distance | 5 ~ 53mm | ||
| Sample loading Time | 90 sec (Vacuum) 10 sec (Vent) | ||
| Automatic Function | Auto Brightness & Contrast, Auto Focus, Auto Gun Alignment, Auto Saturation, Auto Filament, Bias | ||
| Image Format | JPG, TIFF, BMP, PNG | ||
| Display Mode | Focus Mode : 320 x 240 pixel, Resizable Preview Mode : 800 x 600 Slow Mode : Applicable to both preview and focus mode Photo Mode : Up to 3200 x 2400 |
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| Dimension(mm) | W x D x H = 410mm x 440mm x 520mm, 65kg | ||
| Operation Device(PC) | Windows 10-based All-in-One 21.5” Workstation, 100% controlled by keyboard and mouse | ||
| Optional Devices | EDS (All-in-one Model of SEM-EDS), Auto Rotation, Auto Tilt, Chamber Camera, Navigation *Oxford, Bruker, EDAX, Thermo compatible |
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| Power Supply | Single Phase : 100 ~ 240VAC, 50 / 60Hz, 1kVA | ||
file_downloadcube-ii-table-sem-for-web.pdf
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REM wird in vielen Bereichen eingesetzt, um beispiellose Bilder der mikroskopischen und nanometrischen Welt zu erzeugen.
Die Familie von REM-Modellen ist in Forschungsbereichen und Industrieanwendungen wie Halbleiter-, Flachbildschirm- und Nanotechnologie-Laboren weit verbreitet, Flachbildschirme und Nanotechnologie-Labore.
- Qualitätskontrolle von elektronischen Schaltungen und Halbleiterteilen
- Beobachtung der Mikrostruktur von Sekundärzelle, CNT (Carbon Nano Tube), Solarzelle, Wafer, Bonding Wire, LED,
Nanotechnologie