ZEUS Wafer Reinigungssystem

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By GNP

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Product Type:

Equipment


Application:

CMP, Nassprozesse


Product Description:

Halbautomatischer Einzelwafer-Reiniger

Das Zeus-Reinigungssystem ist ein Hochleistungs-Waferreiniger, der fünf Reinigungsprozesse nacheinander durchführt und vollständig anpassbar ist. Besonders effektiv bei der Partikelentfernung nach CMP, ermöglicht es die kontinuierliche Echtzeitanwendung aller Reinigungsschritte.

Das System unterstützt Wafergrößen von 20 mm x 20 mm Coupon-Wafern bis zu 300 mm Durchmesser in einer einzigen Einheit und macht mehrere Reinigungssysteme überflüssig. Nach der Reinigung werden die Wafer spin-getrocknet, wodurch eine sofortige Partikelinspektion möglich ist. Die Reinigung von Coupon-Wafern erlaubt eine schnelle Bewertung neuer Reinigungsmittel oder Prozesse mit AFM, ohne Full Scale Particle Counters zu benötigen.

Hauptmerkmale:

  • Führt chemisches Sprühen, megasonisches Sprühen, Pad-Polieren, PVA-Bürstenreinigung und Spin-Trocknung durch.
  • Jedes Modul kann unabhängig programmiert und die Reinigungsreihenfolge angepasst werden.
  • Optimale Reinigungsleistung durch gleichzeitige Anwendung aller fünf Reinigungstechniken.
  • Beseitigt die Notwendigkeit mehrerer Reinigungssysteme für unterschiedliche Wafergrößen.
  • Ermöglicht eine sofortige Bewertung der Reinigungsleistung mittels Partikelinspektionsgeräten.


Bürstenreinigung

  • Anpresskraft-Kontrolle: Max 10 kgf
  • Wafer-Drehzahl: Max 3000 U/min
  • Bürsten-Drehzahl-Kontrolle: Max 400 rpm
  • Drehmomentüberwachung: Motor-Drehmomentüberwachung
  • Arten von Reinigungsmitteln: Max 3 Lösungen

Stiftbürste oder Pad-Polieren

  • Sweep-Frequenz:: Max 30 cpm
  • Wafer-Drehzahl-Kontrolle: Max 3000 U/min
  • Anpresskraft: Max 5 kgf
  • Drehzahl-Kontrolle: Max 200 U/min

Megasonic-Reinigung

  • Sweep-Frequenz: Max 30 cpm
  • Megasonic-Frequenz: ~1 MHz
  • Wafer-Drehzahl-Kontrolle: Max 3000 U/min

Chemische Spülreinigung

  • Sweep-Frequenz: Max 30 cpm
  • Durchfluss-Kontrolle: Max 1 liter/min
  • Wafer-Drehzahl-Kontrolle: Max 3000 U/min
  • Anzahl der Chemikalien: 2 Chemikalien

Spin-Trocknung

  • Gebläse: N2-Luftstrom / Stickstoff-Trocknung
  • Wafer-Drehzahl-Kontrolle: Max 3000 U/min, 5 Sek gem.

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