by FASTMICRO
Anderes Equipment, Optische Inspektionssysteme
Fastmicro Sample Scanner
Oberflächenreinheitsprüfung mit 0,5-µm-Partikelerkennung, objektiven Reports und schnellem Bediener-Workflow.
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Fastmicro entwickelt hochmoderne Partikelmesssysteme, die eine Validierung der Partikelreinheit auf Mikroebene sowie die Echtzeitüberwachung der Partikelablagerung im Submikrometerbereich ermöglichen und so leistungsstarke Prozesse sowie die Einhaltung von Reinraumstandards unterstützen.
Oberflächenreinheitsprüfung mit 0,5-µm-Partikelerkennung, objektiven Reports und schnellem Bediener-Workflow.
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