N Series Wafer Sorting / Handling / Inspection Plattform

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By NADAtech

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PP-Kassette

PP-Kassetten werden vornehmlich für Versand und Archivierung verwendet. Verwendbar für den Transport innerhalb des Produktionsstandorts, aber…

Interessante Produktbereiche für Sie:

Product Type:

Metrology & Handling


Application:

Wafer-Handling


Product Description:

Die N Series OC Sorter (auch bekannt als Open Cassette oder Open Carrier Sorter) sind perfekt geeignet für 50 mm bis 200 mm Scheibendurchmesser mit einer raumsparenden Grundfläche und hoher Sortiergeschwindigkeit. Alle Modelle beinhalten Industrie-OEM-Roboter für langfristige Zuverlässigkeit und Sevicefähigkeit, NADAtech’s innovatives RBuilder-Rezeptentwicklungs-Tool und SUREscan Thrubeam-Carrier-Scanning für präzises Wafer-Mapping. Jedes System kann an spezifische Aufgaben durch verschiedene Sorter+ Optionen angepasst werden.

  • 2 bis 6 Open-Carrier-Plätze sind verfügbar für größere Chargen und Aufteilungen
  • Hochflexible OCR/BCR-Lesung mit >300wph Durchsatz / 800wph ohne Lesung
  • Dual-Arm-Roboter ermöglicht Sorting im selben Carrier
  • Hybridlösung für mehrere Scheibendurchmesser (maximal 3 Größen pro Platz)
  • Endeffektoren für rückseitiges Vakuum, passives or aktives Rand-Handling erhältlich
  • Multiple Sortierungsabläufe mit dem innovativen RBuilder Rezept-Entwicklungs-Tool programmierbar
  • IOSS OCR
  • Extrem platzsparender 4-Stationen- oder noch kleinerer 2-Stationen-Grundriss für enge Platzverhältnisse
  • Volle SECS/GEM E5/E30 basierte Host-Kommunikation/Operation verfügbar
  • Optionales Mini-Environment mit Class 10 FFU-Filter erhältlich
  • Nahezu alle Sorter+ Optionen können integriert werden
  • Kostenlose Vor-Ort-Beratung durch erfahrene lokale Mitarbeiter


Optionale Funktionen:

  • ChipChecker™ (>350um)
  • ChipCheckerPro™ (>40um)
  • Bright-Light Inspection
  • Stocker
  • Wafer Thickness Measurement
  • Macro Inspection
  • Slip Finder

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NADAtech T Series OC Wafer Sorters sind für zentrale Prozesse in der Halbleiterfertigung ausgelegt, darunter:

  • Sortierung
    Präzise Identifikation und Klassifizierung von Wafern auf Basis von OCR-Daten.
  • Inspektion
    Inline-Inspektion und Metrologie zur Qualitätssicherung in Echtzeit.
  • Handhabung
    Zuverlässiger und schonender Wafer-Transport zwischen Prozessschritten und Anlagen.
  • Automatisierung
    Nahtlose Integration in vollautomatisierte Fertigungsumgebungen zur Maximierung von Effizienz und Durchsatz.



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