Onto Innovation: Bild des Defekt- und Partikel-Inspektionssystems PrimaScan P für Panels bis zu 600x600 mm.

Optische Inspektionssysteme


PrimaScan™ P Serie


Die PrimaScan™ Serie von Wafer- und Panel-Inspektionssystemen bietet eine umfassende...

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OptoNano 200 advanced microscopy technology from PhaosTech

Optische Mikroskopie


OptoNano 200


Advanced microscopy technology Resolve down to 137 nm scale with...

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Bild des Defekt- und Partikel-Inspektionssystems PrimaScan von Onto Innovation mit manueller Beladung für 100-450 mm große Substrate.

Optische Inspektionssysteme


PrimaScan™ Serie


Die PrimaScan™ Serie von Wafer- und Panel-Inspektionssystemen bietet eine umfassende...

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